数据域测试及仪器 数字系统的故障诊断及可测性设计 [电子书]

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电子书简介 

数据域测试与传统的时域和频域测试不同,是测试技术中一个新的测试领域。全书共分七章,阐述了组合逻辑、时序逻辑和微机系统的测试方法,以及数字系统的计算机辅助测试 (CAT),并对可测性设计作了深人的分析

电子书目录 

  • 13绪论
  • 13一、测试技术的新领域
  • 14二、数据域测试的基本方法
  • 14三、计算机辅助测试
  • 16四、可测性和内测试
  • 17五、数据域测试仪器
  • 19第一章数据域测试的基本概念
  • 19第一节数字系统的测试
  • 28第二节穷举测试法
  • 35第三节故障表方法
  • 45习题
  • 47第二章组合逻辑电路的测试
  • 47第一节通路敏化
  • 53第二节d算法
  • 67第三节临界通路法
  • 68第四节布尔差分法
  • 80第五节故障字典
  • 81习题
  • 85第三章时序逻辑电路的测试
  • 85第一节迭接电路法
  • 91第二节时序故障表法
  • 99第三节状态变迁检查法
  • 107第四节时延测试
  • 112习题
  • 117第四章微机系统的测试
  • 117第一节存储器的测试
  • 127第二节微处理器的测试
  • 136第三节利用被测系统的应用程序进行测试
  • 146第四节利用总线观察进行测试
  • 147习题
  • 148第五章数字系统的计算机辅助测试
  • 148第一节计算机辅助测试的基本概念
  • 151第二节d算法程序
  • 155第三节扩展d算法程序
  • 162第四节PODEM算法
  • 164第五节微处理器测试产生程序
  • 170第六节故障模拟
  • 176习题
  • 177第六章可测性设计
  • 178第一节可测性的测度
  • 183第二节可测性设计方法
  • 191第三节组合电路的异或门串联结构
  • 194第四节内测试设计
  • 203第五节边缘扫描技术
  • 209习题
  • 211第七章数据域测试仪器
  • 211第一节数字信号发生器
  • 221第二节特征分析仪
  • 233第三节逻辑分析仪
  • 260第四节GP-IB母线分析仪
  • 268第五节规约分析仪
  • 272第六节数字传输测试
  • 286第七节数字通信测试
  • 294第八节开发系统
  • 313习题
  • 314参考文献

书籍评论

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  • 2013-9-24 22:53:08

    为什么不能购买了